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TEM小室EMC抗擾度測試
更新時間:2021-08-18   點擊次數:2504次

1.   介紹

     有位客戶要求我們幫助解決LED燈抗擾度問題。該產品在300 MHz400 MHz頻率范圍內在實驗室中進行BCI(大電流注入法)測試失敗,故障模式是LED閃爍。汽車BCI測試需要強大的寬帶射頻放大器和合適的電流探頭才能將RF注入電源線中。由于此測試需要的設備并非每個設計實驗室都有,因此Tekbox使用了一種可以簡單觸發(fā)類似效果的測試裝置預合規(guī)設備。 隨后,可以再現(xiàn)故障模式,可以定位DUT的敏感點,并可以解決抗擾度問題

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為了使所需設備的盡量少,頻譜分析儀的跟蹤發(fā)生器用作RF信號發(fā)生器。 當頻譜分析儀設置為零跨度時,跟蹤發(fā)生器以恒定頻率輸出RF。 更改頻譜分析儀的中心頻率會相應地更改TG輸出頻率。 頻譜分析儀跟蹤發(fā)生器的輸出電平通常可以以-20 dBm0 dBm1dB步長進行設置。 Tekbox調制寬帶RF放大器設計為在饋入跟蹤發(fā)生器信號時可提供其全部輸出功率

運行TekboxEMCviewPC可提供舒適的跟蹤生成器控制。

TBMDA3調制功率放大器具有高達5W的輸出功率和10MHz1.2 GHz的可用頻率范圍,可驅動TEM單元。 為了施加高場強,TBTC0TEM單元。由于其較低的隔墊高度,當由TBMDA3驅動時,它可以產生高達500V/m的場強。

將伸縮天線連接到頻譜分析儀的RF輸入,以具有視覺反饋的方式。 由于TBTC0是一個開放的TEM單元,它會輻射一些RF,通常每米距離以30dB的速率減小。 這足以被天線拾取,以顯示放大和脈沖調制的RF信號的包絡。

該設置基本上可以測試輻射抗擾度。 但是,為了在一定程度上模擬BCI測試,除了DUT之外,將一部分供電電纜放置在隔墊下方,以將RF輻射到供電線路中。

3.   EMC View軟件

EMCview當前支持RigolSiglent頻譜分析儀的跟蹤發(fā)生器控制。 軟件會定期更新,并會增加對其他頻譜分析儀型號的支持。

啟動EMCview之后,首先需要與Siglent Spectrum分析儀建立連接。 這可通過DEVICESA USB菜單完成。 單擊搜索按鈕將列出所有已連接的設備。 選擇Siglent SA并按CONNECT VISA建立連接

EMCview提供了輻射和傳導EMC測量,RF測量和跟蹤發(fā)生器控制的模式。 為了進入TG控制模式,請選擇菜單MODEGENERATOR。在GENERATOR模式下,用戶可以定義固定頻率和掃描的列表。

據客戶反饋,DUT300 MHz400 MHz范圍內存在問題,因此輸入了從10 MHz1 GHz的掃描時間,每個頻率的停留時間為2秒,頻率步長為5 MHz TG幅度設置為-10 dBm,以便從TBMDA3調制放大器獲得最大輸出功率


4.   掃描頻率

按下PLAY按鈕后,立即開始掃頻。 信號的包絡可以在頻譜分析儀上進行監(jiān)視。 由于伸縮天線的頻率特性,包絡的幅度將隨頻率而變化。

掃描通過了300 MHzDUT的性能穩(wěn)定。 但是,接近800 MHz時,LED開始閃爍,然后*熄滅,幾乎一直上升到1.2GHz

關于與BCI測試所報告問題的頻率差異可以用不同的供電電纜長度以及相應的BCI測試和TEM電池測試期間的電纜諧振來解釋。


5.   分析和整改

LED驅動器由三個獨立的線性恒流穩(wěn)壓器IC組成,每個IC驅動一串5LED

使用近場探頭進行的測試表明,只要靠近三個相同部分中任何一個的調節(jié)器IC旁邊的幾個組件,總會關閉15LED


這是令人驚訝的,因為近場探針僅輻射到PCBA的一小部分。最初,預計僅單個字符串會受到影響。因此,入口點必須是走線,所有三個IC都共享走線。

快速瀏覽一下原理圖,發(fā)現(xiàn)所有三個電流調節(jié)器都只有使能引腳連接在一起,使能引腳通過相對較長的走線互連到上拉電阻。這也將解釋BCI測試期間通過正電源線為RF的入口點。

接下來,將一個1 nF的去耦電容器焊接到每個ICEnable引腳。使用改良的DUT重復進行TEM電池測試,從而解決了抗擾問題。

隨后,客戶相應地修改了DUT,并成功通過了BCI測試。


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